X光安檢機安檢儀探測器的優點
文章出處:新聞中心
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發表時間:2018-10-17
威思盾自2004年創立以來,一直嚴格執行質量乃產品之本的原則,從晶圓制造到封測,從產品制造到檢測,每一道環節都嚴格遵循威思盾獨有的行業標準。以優異的產品品質,獲得消費者與合作伙伴的廣泛認可,成為了的獨立安檢模組產品的生產供貨商。
從理論上講對于同等像素尺寸,非晶硒比非晶硅探測器精度高。因為在X射線光電子轉化為信號時,不產生散射和拖影現象。這些系統的缺點是,它們都是復雜的電子裝置價格高,在使用和搬運過程中必須十分小心,而且對使用環境要求苛刻。
探測器是直接X射線成像系統中核心的部分,它的特性決定了這個系統的成像質量。X光檢測機為滿足實際的檢測要求,平板探測器的面積應足夠大。對于較大的檢測對象,可以攝取多個單幅圖像,然后再將其拼接起來構成最終的全拼圖影像。在成像速度、圖像后處理、圖像顯示、圖像傳輸及存儲、圖像分辨率和圖像信息顯示等方面具有明顯優勢。
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